共聚焦显微镜,可与接触式粗糙度仪等技术无任何冲突并匹配使用

发布于：2015年07月01日来源：www.fuhai360.com

[摘要]众多的科学和工业研究清楚地表明，NanoFocus共聚焦显微镜系统完全满足最高标准，并可与接触式粗糙度仪等技术无任何冲突并匹配使用。

众多的科学和工业研究清楚地表明，NanoFocus共聚焦显微镜系统完全满足最高标准，并可与接触式粗糙度仪等技术无任何冲突并匹配使用。
独具特色的多孔盘技术（MPD）由NanoFocus开发并车友专利，可进行更快速的图像采集，即使在强光照明环境下，系统仍然可以保持非常低的杂散光并获取非常稳定的信号。因此，纳米级的高度分辨率得以实现。
多孔盘上针孔的随机分布，从原理上防止了两个相邻点在同一时间段的测量。与传统的直线扫描相比，散射光干扰、人为误差以及机器测量缺陷得以客服。

公司主营产品：共聚焦显微镜,全自动影像仪,全自动晶元检测系统,太阳能表面检测系统,自动影像仪,共聚焦显微镜,光学测量仪,便携式共聚焦显微镜。
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